XXVII Mostra Unisinos de Iniciação Científica e Tecnológica

XXVII MOSTRA UNISINOS DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA E TECNOLÓGICA De 19/10/2020 a 24/10/2020 Unisinos São Leopoldo e Porto Alegre 328 Inscrição: 5850282 - apresentação oral ANÁLISE DE CONTROLE ESTATÍSTICO DE PROCESSOS PARA PREVISÃO DE FALHAS EM UMA FÁBRICA DE SEMICONDUTORES Autor(a): Mateus Begnini Melchiades Coautor(es): Rodrigo Iván Goytia Mejía Orientador(es): Instituição: Unisinos (PIBIC/CNPq - Unisinos) Área de conhecimento: Ciências Exatas e da Terra PPG em Computação Aplicada O avanço de conceitos tecnológicos, como Internet das Coisas para a Indústria (IIOT) e Big Data, obtidos nas últimas décadas, propor- cionaram a implementação de tecnologias de análise de dados em diversos tipos de processos, sendo um desses a indústria de semi- condutores, onde precisão e um controle rígido são essenciais. Na manufatura de wafers, por exemplo, estar ciente do erro apenas quando acontece não é uma opção, é necessário estar a par do pro- blema antes deste ocorrer. A análise de controle estatístico de pro- cessos (SPC) é amplamente utilizada na manufatura para monito- rar a qualidade do processo em que está inserida e apontar possíveis problemas antes mesmo de acontecerem. O presente trabalho possui como objetivo aplicar a análise SPC em tempo real em dados de sen- sores implementados juntos ao projeto Intelligent Factory na empre- sa HT Micron para apontar possíveis falhas com antecedência, assim como oportunidades para otimização, utilizando um sistema facil- mente compreensível pelo usuário no chão de fábrica. Como resul- tado, obteve-se um sistema capaz de avaliar o desempenho e capaci- dade por meio de uma matriz visual que indica quando é necessário verificar o controle e a instrumentação e quando é necessário modi- ficar o processo.